华清大学5号科研楼保密会议室内，何旭明看着面前坐着的三位专家，李耀华和贺云水他都认识，倒是有一个年轻人戴着口罩，只能看出眉眼，他不认识。
但是这小子竟然能坐在这里，显然不是秘书之类的角色，因为会议秘书都坐在右侧一边。
由于这次汇报的重要程度，能进入保密会议室的除了会议秘书和一名记录人员之外，这三个人都坐在左边，显然都是专家。
他有点好奇这个年轻人的身份，但贺云水率先开了口：
“何教授，请你开始吧！”
何旭明只好从第一页开始解释道：“当前，除了在军用领域上面临昂贵的pme mlcc问题，每个汽车、手机需要成千上万了mlcc电容，而全球运营商期待从2g时代跨步，进一步迈向更加繁荣的3g时代。
所以，克服ic、it基础设施中电容器硬件产品缺失，广泛使用更廉价的bme mlcc就有很大的经济效益
同时，经过我们团队预测，随着时间的推移。
如果未来二十年内，薄层bme mlcc能彻底成为高可靠性应用mlcc的选择，特别是取代pme mlcc，能满足全球军事和航空航天行业不断发展的需求，将会使我国在这一领域取得突破进展，占据世界一流。
在4g甚至未来可能的5g时代，就可以掌握了更为先进的技术
李耀华打断了他的发言，“这些背景东西就不要讲了，何教授，请你解释一下你的团队是如何克服bme mlcc的是不可靠问题？”
何旭明略有迟疑，“其不可靠是因为失效，具体机理是，我们的产品在高温高压下，产品中的固有缺陷被提早激发，这样，内部的机理就从束缚态转变为活跃态。
在电场作用下，这些缺陷定向移动到阴极，形成泄漏电流勒，随着时间的推移，最终导致产品热烧毁（具体理论可称为齐纳击穿），我们采用的方法是通过增加束缚，这样，可以有效的提高了我们产品的可靠性。”
李耀华直接打断他的发言；
“02年的时候，漂亮国nasa国家航空航天局戈达德太空飞行中心已经提出了可靠性要求，要求必须长期满足高质量和高安全标准，确保产品百分之一百的可靠性！你用什么方法保证测试的？”
何旭明就答：“我，出了常规的halt方法，我使用的是利用pa 计测量弛豫缺陷，这样就可以了解每个去极化机制的泄漏电流峰值。”
听何旭明这么说，李耀华看了一眼贺云水，两人都默不作声。
刚才他们本来就问到了一个关键性的问题，但是涉及到pa 计测量弛豫缺陷这个方法，这两个人不太清楚，实际上国内用的人不多，直到2007年国内科研团队才开始大规模使用。
所以，何旭明是仗着他在国内没太多人懂的先机，利用这个打了个信息差。
可是，两位院士虽然不懂，但是凭借着深厚的理论和实践经验，还是感觉有一些问题，但是由于他们不懂具体怎么回事，涉及到了一些细节问题。
所以，两人都不知道该怎么问了，都看向了苏武。
苏武对pa 计测量弛豫缺陷这种技术手段并不陌生，前世当中，苏武是了解的。
他刚才一直盯着ppt看，发现了一个奇怪的现象。
那就是何旭明的使用pa 计测量弛豫缺陷有点怪，不像像是pme mlcc造成的缺陷，反而特别像是bme mlcc造成的缺陷。
这样苏武不由的怀疑起这个何旭明是拿pme mlcc当成bme mlcc来糊弄自己。
再联想到后世中始终没有在这项技术做到领先，马上就断定了何旭明做了假。
想到这，他马上开口问：“在恒定电场 ep 的作用下，极化缺陷在一定时间（通常为几分钟）内形成一种稳定状态吗？”
见这个年轻人突然开口，何旭明心里就一慌。
他其实也不明白，但想着专家应该不会说错话，便还是回复：
“对，然后将电介质短路至较低温度 to，然后再加热样品，使每种极化机制都处于最低值，同时
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